什么樣的設(shè)計缺陷會對檢驗檢測有影響

2020-05-19 12:01:49 657

1. 元器件間距過小。

2. 較高元器件附近未留足空間，飛針等設(shè)備無法操作。

3. 測試點隱藏或遮蔽（如測試點設(shè)計在元器件底部）而無法接觸電測試點。

4. 測試點尺寸、間距過小和焊盤可焊性涂層材料用OSP。